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掺铂WO_3-SiO_2复合薄膜结构表征和气致变色性能研究
胡芸菲1; 沈辉2; 徐雪青2
2001
发表期刊电子学报
ISSN0372-2112
卷号029期号:012页码:1726
摘要采用溶胶-凝胶法制备WO3-SiO2复合薄膜,对不同温度热处理的复合薄膜及单一组分薄膜的结构和气致变色性能进行了对比分析。XRD分析结果表明,复合薄膜的晶化温度提高、晶化程度降低,存在一定的晶格畸变;IR分析结果表明,在热处理过程中复合薄膜氧化钨分子间不易缩合,分子结构对称性低、变形多。性能测试结果表明,在复合薄膜中,WO3与SiO2之间的相界等结构缺陷为氢气提供扩散通道,使复合薄膜在热处理后气致变色性能优于单一组分薄膜。
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.giec.ac.cn/handle/344007/19648
专题中国科学院广州能源研究所
作者单位1.华南理工大学
2.中国科学院广州能源研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
胡芸菲,沈辉,徐雪青. 掺铂WO_3-SiO_2复合薄膜结构表征和气致变色性能研究[J]. 电子学报,2001,029(012):1726.
APA 胡芸菲,沈辉,&徐雪青.(2001).掺铂WO_3-SiO_2复合薄膜结构表征和气致变色性能研究.电子学报,029(012),1726.
MLA 胡芸菲,et al."掺铂WO_3-SiO_2复合薄膜结构表征和气致变色性能研究".电子学报 029.012(2001):1726.
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