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Spectroscopic ellipsometry study of In2O3 thin films 期刊论文
JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE-MATERIALS IN ELECTRONICS, 2009, 卷号: 20, 期号: Suppl. 1, 页码: 71-75
作者:  Miao, L.;  Tanemura, S.;  Cao, Y. G.;  Xu, G.
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