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Preparation and characterization of Si sheets by renewed SSP technique 期刊论文
JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH, 2004, 卷号: 270, 期号: 3-4, 页码: 446-454
作者:  Ai, B;  Shen, H;  Ban, Q;  Wang, XJ;  Liang, ZC;  Liao, XB
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Crystal Structure  Recrystallization  Substrates  Growth From Melt  Semiconducting Silicon  
纳米TiO2薄膜的应用机理研究 会议论文
2004全国真空冶金与表面工程学术研讨会论文集, 2004全国真空冶金与表面工程学术研讨会论文集, 2004全国真空冶金与表面工程学术研讨会, 2004全国真空冶金与表面工程学术研讨会, 沈阳, 2004-05-31
作者:  王贺权;  巴德纯;  沈辉;  汪保卫;  陈达
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纳米薄膜  二氧化钛  半导体材料