GIEC OpenIR  > 中国科学院广州能源研究所
Surface morphology and defects of polycrystalline silicon thin film
Hu YF(胡芸菲); Guo ZQ(郭志球); Liu XY(柳锡运)
2010-08-06
会议(录)名称15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference ; 15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference
会议(录)名称15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference ; 15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference
会议日期2005
会议地点-
文献类型会议论文
条目标识符http://ir.giec.ac.cn/handle/344007/3189
专题中国科学院广州能源研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Hu YF,Guo ZQ,Liu XY. Surface morphology and defects of polycrystalline silicon thin film[C],2010.
条目包含的文件 下载所有文件
文件名称/大小 文献类型 版本类型 开放类型 使用许可
Surface Morphology a(499KB) 开放获取--浏览 下载
个性服务
推荐该条目
保存到收藏夹
查看访问统计
导出为Endnote文件
谷歌学术
谷歌学术中相似的文章
[Hu YF(胡芸菲)]的文章
[Guo ZQ(郭志球)]的文章
[Liu XY(柳锡运)]的文章
百度学术
百度学术中相似的文章
[Hu YF(胡芸菲)]的文章
[Guo ZQ(郭志球)]的文章
[Liu XY(柳锡运)]的文章
必应学术
必应学术中相似的文章
[Hu YF(胡芸菲)]的文章
[Guo ZQ(郭志球)]的文章
[Liu XY(柳锡运)]的文章
相关权益政策
暂无数据
收藏/分享
文件名: Surface Morphology and Defects of Polycrystalline Silicon Thin Film.pdf
格式: Adobe PDF
此文件暂不支持浏览
所有评论 (0)
暂无评论
 

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。