Knowledge Management System Of Guangzhou Institute of Energy Conversion, CAS
Surface morphology and defects of polycrystalline silicon thin film | |
Hu YF(胡芸菲); Guo ZQ(郭志球); Liu XY(柳锡运) | |
2010-08-06 | |
会议(录)名称 | 15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference ; 15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference |
会议(录)名称 | 15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference ; 15th International Photovoltaic Science and Engineering Conference |
会议日期 | 2005 |
会议地点 | - |
文献类型 | 会议论文 |
条目标识符 | http://ir.giec.ac.cn/handle/344007/3189 |
专题 | 中国科学院广州能源研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | Hu YF,Guo ZQ,Liu XY. Surface morphology and defects of polycrystalline silicon thin film[C],2010. |
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Surface Morphology a(499KB) | 开放获取 | -- | 浏览 下载 |
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